测试& Measurement

Speedster7t FPGA为高级测试和测量应用提供了硬件可编程性和超高带宽的完美结合。

由于技术和成本方面的原因,较旧的测试新技术的方法不可行,因此测试和测量往往处于创新的前沿。像测试仪一样,FPGA通常是测试和测量产品的初始原型设计和部署的平台支持者。要求高性能,对新标准和新兴标准进行测试并加快上市时间的一些行业包括有线通信,5G基础设施和物联网。同样,ATE测试人员需要支持复杂的逻辑和存储器组件。

Speedster7t FPGA系列针对高带宽工作负载进行了优化,并消除了与传统FPGA相关的性能瓶颈。 Speedster7t FPGA以台积电的7nm FinFET工艺为基础,具有革命性的新型2D片上网络(NoC),一系列针对高带宽和人工智能/机器学习(AI / ML)工作负载进行了优化的新型机器学习处理器(MLP)。 ,高带宽GDDR6接口,400G以太网和PCI Express Gen5端口—相互连接以提供ASIC级性能,同时保留FPGA的完整可编程性。

Speedster7t解决方案

先进的FPGA提供了硬件可编程灵活性和超高带宽能力的完美融合,非常适合测试和测量应用。特别是,Achronix的Speedster7t FPGA特别适合此类应用,因为它们对内存带宽的要求极高。

下面的框图说明了ATE测试仪中高性能FPGA的价值。这些测试仪需要非常高带宽的存储器来缓冲捕获数据。 Speedster7t是业界唯一以GDDR6存储器提供兆兆位带宽的FPGA,而成本仅为基于HBM的替代FPGA解决方案的一小部分。嵌入式GDDR6硬控制器不使用任何FPGA可编程资源。 GDDR6内存带宽可用于:1)用于将数据流传输到被测系统的激励向量,以及2)从SUT检索并存储用于分析的数据的捕获响应。

在这些应用中,流量主要是单向的,并以较大的连续块进行传输,从而最大化了GDDR6接口的强度。这些GDDR6控制器也作为强化IP模块完全嵌入到Speedster7t设备中。这样,FPGA可以执行更多任务,从而有可能吸收其他设备的功能,从而降低设备数量和复杂性。

Speedster7t设备具有8个独立的GDDR6组件或16个独立的GDDR6通道,可提供超过4 Tbps的存储带宽,在存储容量和带宽方面表现出色。它们还以块和分布式RAM的形式提供高达200 Mb的嵌入式RAM。

 
ATE测试仪框图
 
申请条件 Speedster7t价值
需要通过PCIe和以太网进行大量外部连接
  • 高达1.6 Tbps以太网,512 Gbps PCIe Gen5 x16
  • 最高性能SerDes-112 Gbps
  • 多个100G和400G以太网端口
  • XSR SerDes用于极低的接口电源连接
最高的内存带宽用于缓冲

内存层次

  • 最多16个独立的GDDR6通道(16 Gbps)
  • 总带宽高达4 Tbps
宽数据路径和高性能

针对高吞吐量数据传输和加速进行了优化的FPGA架构

  • 高达20 Tbps的NoC带宽,用于高速,宽数据传输
  • 传统的逐位路由加上新的优化的8位总线路由
  • 支持任意数字格式,路由结构和内存层次结构
具有实现复杂的自定义算法的强大逻辑能力

可扩展的设备系列,逻辑高达2.6M 6LUT

大量内部存储器用于排队指针,内部缓存和暂存器RAM 高达300 Mbit的内部SRAM